集成电路高温动态老化系统
集成电路高温动态老化系统-标准款
| 高温试验箱 | R.T.~150℃ | |||
| 容量 | 16通道 | |||
| ALPG（数字信号） | Test Rate：20Mhz | |||
| I/O channel ( 单通道 )：64路（DRV.） | ||||
| Vector Memory（向量深度）：8Mbit（per pin） | ||||
| Driver Vih/Vil：+2V~+15V / ≤0.7V | ||||
| Tr/Tf：≤10ns | ||||
| Driver Current：±100mA | ||||
| AWG（模拟信号） | TYPE：正弦波、矩形波、三角波、前后〒锯齿波 | |||
| Channel：4路 | ||||
| Rate：10hz~1Mhz | ||||
| Vp-p：±1V~±10V( ≤100Khz )；±1V~±5V ( 100KHz~1MHz ) | ||||
| Vbias：0~±1/2VPP( |偏移量+峰值(谷值)| ≤15V ) | ||||
| Driver Current：1A | ||||
| Monitor channel | 64ch ( DC + Freq ) , Voh≤15V / Vol≤15V | |||
| DPS（二级电源） | 3ch per BIB；+2V~+18V/10A x2ch，-2V~-18V/10A | |||
| 其他信息 | BIB板尺寸：280mm*598mm | |||
电网要求： AC 380V/50Hz | ||||
| 试验标准 | MIL-STD-883D MIL-M-38510 GJB548 GJB597 |
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