集成电路高温动态老化系统
集成电路高温动态老化系统-标准款
高温试验箱 | R.T.~150℃ | |||
容量 | 16通道 | |||
ALPG(数字信号) | Test Rate:20Mhz | |||
I/O channel ( 单通道 ):64路(DRV.) | ||||
Vector Memory(向量深度):8Mbit(per pin) | ||||
Driver Vih/Vil:+2V~+15V / ≤0.7V | ||||
Tr/Tf:≤10ns | ||||
Driver Current:±100mA | ||||
AWG(模拟信号) | TYPE:正弦波、矩形波、三角波、前后〒锯齿波 | |||
Channel:4路 | ||||
Rate:10hz~1Mhz | ||||
Vp-p:±1V~±10V( ≤100Khz );±1V~±5V ( 100KHz~1MHz ) | ||||
Vbias:0~±1/2VPP( |偏移量+峰值(谷值)| ≤15V ) | ||||
Driver Current:1A | ||||
Monitor channel | 64ch ( DC + Freq ) , Voh≤15V / Vol≤15V | |||
DPS(二级电源) | 3ch per BIB;+2V~+18V/10A x2ch,-2V~-18V/10A | |||
其他信息 | BIB板尺寸:280mm*598mm | |||
电网要求: AC 380V/50Hz | ||||
试验标准 | MIL-STD-883D MIL-M-38510 GJB548 GJB597 |
我们专注于为各种封装形式的↘模拟、数字、数模混合集成电路提供高温动态老炼筛々选和寿命试验服务。无论〓是存储器还是超大规模集成电路等IC器件,我们都能够为您提供最优质的解决方案。
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